[发明专利]一种基于光纤光栅传感器的裂纹损伤定量方法在审
| 申请号： | 201910300242.5 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN110095470A | 公开（公告）日： | 2019-08-06 |
| 发明（设计）人： | 张卫方;蓝煜东;张萌;赵炎;谢宇宽 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/16;G06F17/15;G06F17/16;G06F17/50;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京众泽信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11701 | 代理人： | 张艳萍 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光纤光栅传感器的裂纹损伤定量方法，包括：A、分析监测对象，建立有限元模型，进行裂纹扩展仿真；B、进行光纤光栅传感器反射光谱的仿真，构建仿真数据库；C、从光纤光栅传感器的反射光谱数据提取表征裂纹的特征向量；D、基于神经网络得到裂纹位置特征的模型；E、将实验的特征向量输入到裂纹位置特征的模型输出得到裂纹尖端所在位置的热图；F、根据热图中概率最大的裂纹尖端位置与初始裂纹位置计算得到裂纹的尺寸、角度量化数据。采用本发明，利用光纤光栅传感器对平板结构进行监测，通过监测裂纹尖端位置，实现对裂纹损伤的尺寸、位置和损伤方向的定量识别；并能够提高裂纹损伤定量监测的实用性和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤光栅传感器 裂纹损伤 裂纹尖端 裂纹位置 特征向量 反射光谱数据 仿真数据库 定量监测 反射光谱 分析监测 角度量化 裂纹扩展 平板结构 神经网络 元模型 监测 构建 损伤 输出 概率 | ||
【主权项】：
1.一种基于光纤光栅传感器的裂纹损伤定量方法，其特征在于，包括如下步骤：A、分析监测对象，建立有限元模型，进行裂纹扩展仿真；B、进行光纤光栅传感器反射光谱的仿真，构建仿真数据库；C、从光纤光栅传感器的反射光谱数据提取表征裂纹的特征向量；D、基于神经网络得到裂纹位置特征的模型；E、将所述表征裂纹的特征向量输入所述裂纹位置特征的模型，输出得到裂纹尖端所在位置的热图；F、根据热图中概率最大的裂纹尖端位置与初始裂纹位置计算得到裂纹的尺寸、角度量化数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910300242.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基表自动测试检测装置
- 下一篇：一种卷烟印刷材料综合检测平台
