[发明专利]基于三维重构模型的微通道横截面几何尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 201910303451.5 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN109916935B 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 牛文杰;英豪;赵淇东;肖华芝;杨珊珊;孙久洋 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046;G06T7/60
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 赵敏玲
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种基于三维重构模型的微通道横截面几何尺寸测量方法,包括以下步骤:建立微通道的实体模型,提取微通道的骨架;确定微通道分割平面;提取微通道分割平面与微通道实体模型四面体边界面的交点;测量微通道横截面几何尺寸。本发明基于三维重构模型的微通道横截面几何尺寸测量方法的优点,能够实现高深宽比的微通道不同位置的横截面几何尺寸的测量;该方法以分割实体模型四面体的方法代替操作复杂的测量方法,操作简单,适用范围广,横截面划分更准确;而且该方法不损坏任何结构,实现了微通道横截面几何尺寸的无损测量。
搜索关键词: 基于 三维 模型 通道 横截面 几何 尺寸 测量方法
【主权项】:
1.基于三维重构模型的微通道横截面几何尺寸测量方法,其特征是,包括以下步骤:步骤一:建立微通道的实体模型,提取微通道的骨架;步骤二:确定微通道不同位置的分割平面;步骤三:提取微通道分割平面与微通道实体模型四面体边界面的交点;步骤四:测量微通道横截面几何尺寸。
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