[发明专利]一种用于光声检测的干涉条纹相位提取方法有效

专利信息
申请号: 201910305054.1 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN110108643B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 郗洪柱;周建发;王伟魁 申请(专利权)人: 北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01J9/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张辉
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于光声检测的干涉条纹相位提取方法,首先利用极值—中心取点法确定单幅干涉条纹中需要提取辐照度的五个位置点;然后设置线阵图像传感器的驱动频率和积分时间;利用高速模数转换器获取一幅干涉条纹图并进行中值滤波;提取五个位置点的辐照度并计算干涉条纹相位值;计算前后相邻干涉条纹相位差;对相位差做累加并对累加和结果做低通滤波;连续获取多幅干涉条纹图,依次重复上述过程即可得到反应光声变化情况的连续相位曲线。该方法可自动实现干涉条纹的相位提取,减轻噪声和随机误差的影响,并且算法实时性好,资源开销低。
搜索关键词: 一种 用于 检测 干涉 条纹 相位 提取 方法
【主权项】:
1.一种用于光声检测的干涉条纹相位提取方法,其特征在于包括如下步骤:(1)利用极值—中心取点法确定单幅干涉条纹中需要提取辐照度的五个位置点;(2)设置线阵图像传感器的驱动频率、积分时间;(3)利用高速模数转换器采集线阵图像传感器的输出模拟信号,所述线阵图像传感器的输出模拟信号为单幅干涉条纹的所有像素点模拟量,高速模数转换器对采集的模拟信号进行模数转换后,得到包含一幅干涉条纹各个像素点处辐照度的数组,即一幅数字化的干涉条纹;(4)从干涉条纹中提取步骤(1)确定的五个位置点处的辐照度,据此计算干涉条纹的相位值;(5)继续获取下一幅干涉条纹;(6)重复步骤(4),得到新获取的干涉条纹的相位值;(7)判断步骤(6)得到的本次干涉条纹相位值与上次干涉条纹相位值的大小,若本次比上次大π,则将本次结果减去2π后作为本次干涉条纹相位值的最新结果;若本次比上次小π,则将本次结果加上2π后作为本次干涉条纹相位值最新结果,将本次干涉条纹与上次干涉条纹的相位差保存;(8)对步骤(7)得到的干涉条纹相位差做累加,并对累加和结果做低通滤波;(9)连续获取多幅干涉条纹,每次获取一幅干涉条纹,即重复步骤(6)‑(8);(10)对累加和滤波后的曲线进行锁相处理,得到曲线的幅值,该幅值即为对应的光声变化量。
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