[发明专利]远红外阻挡杂质带探测器吸收层厚度的优化方法及装置有效
| 申请号： | 201910305451.9 | 申请日： | 2019-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN110188379B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 王晓东;陈雨璐;王兵兵;张传胜;童武林;胡永山;张皓星;俞旭辉 | 申请（专利权）人： | 上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01J1/42 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 龚子岚;李佳俊 |
| 地址： | 200063 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明提供一种远红外阻挡杂质带探测器吸收层厚度的优化方法及装置，包括如下步骤：获取阻挡杂质带探测器的物理模型的参数，构建阻挡杂质带探测器的数值模型；根据所述数值模型获取阻挡杂质带探测器的响应率R随入射波长λ变化的曲线；改变数值模型中的吸收层的厚度得到对应的光谱响应率曲线，获取光谱响应率曲线的峰值波长λ |
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| 搜索关键词： | 红外 阻挡 杂质 探测器 吸收 厚度 优化 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种远红外阻挡杂质带探测器吸收层厚度的优化方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，获取阻挡杂质带探测器的物理模型的参数，构建阻挡杂质带探测器的数值模型；步骤2，根据所述数值模型获取阻挡杂质带探测器的响应率R随入射波长λ变化的曲线，所述响应率R随入射波长λ变化的曲线即为光谱响应率曲线；步骤3，改变数值模型中的吸收层的厚度得到对应的光谱响应率曲线，获取光谱响应率曲线的峰值波长λP；步骤4，获取拟合正电极偏压UF下峰值响应率RP随吸收层厚度TAbs变化的曲线的函数式RP(TAbs)；步骤5，获取拟合阻挡杂质带探测器生产成本Cm随吸收层厚度TAbs变化的曲线的函数式Cm(TAbs)；步骤6，根据步骤4和步骤5获取的函数式获取最佳吸收层厚度。
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