[发明专利]一种功率谱双特征参量提取的激光器线宽测量方法及装置有效
| 申请号： | 201910306123.0 | 申请日： | 2019-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN110118643B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 柯昌剑;王智辉;钟一博;王昊宇;崔晟;刘德明 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种功率谱双特征参量提取的激光器线宽测量方法与装置。该方法包括：将待测激光分束，其中一束激光移频、另一束激光延时，将移频和延时后的两束激光合束，探测合束光的光电流并获取其功率谱；提取功率谱的特征参量：一阶包络峰值与谷值的功率差值、零阶极小值点与中心频率的频率差值；根据提取的特征参量计算待测激光的线宽值。该装置包括：光源模块将待测激光分为第一激光和第二激光；频移模块将第一激光移频；延时模块将第二激光延时；功率谱获取模块用于探测合束光的光电流并获取其功率谱；数据处理模块用于提取特征参量，计算待测激光的线宽值。本发明可以避免现有技术中延时光纤长度测量误差导致激光器线宽测量不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 特征 参量 提取 激光器 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种功率谱双特征参量提取的激光器线宽测量方法，其特征在于，包括：(1)将待测激光分成两束，其中一束激光移频、另一束激光延时，将移频和延时后的激光合束，探测合束光的光电流并获取其功率谱；(2)提取功率谱的特征参量；所述特征参量包括：一阶包络峰值与谷值的功率差值、零阶极小值点与中心频率的频率差值；(3)根据提取的特征参量计算待测激光的线宽值。
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