[发明专利]特征点匹配方法、三维重构过程的特征点匹配方法及装置有效
申请号: | 201910307269.7 | 申请日: | 2019-04-17 |
公开(公告)号: | CN110070610B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 张学阳;李学军;郑辉;何庆 | 申请(专利权)人: | 精伦电子股份有限公司 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00;G06V10/46 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王庆龙;苗晓静 |
地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例提供一种特征点匹配方法、三维重构过程的特征点匹配方法及装置,其中方法包括:根据SURF算法对两幅图像进行特征点匹配,获得多个特征点对;根据预先设置的斜率阈值和距离阈值对所述特征点对进行过滤;根据RANSAC算法对特征点对集合中的特征点对进行误匹配剔除;计算所述更新后的特征点对集合中的特征点对内的平均距离、距离标准差、平均斜率和斜率标准差并共同作为过滤标准,根据所述过滤标准对更新后的特征点对集合再次进行过滤,将再次过滤后的特征点对集合中的特征点对作为所述两幅图像的特征点匹配结果。本发明实施例不仅可以提高算法的运算效率,得到的特征点对精度也更高。 | ||
搜索关键词: | 特征 匹配 方法 三维 过程 装置 | ||
【主权项】:
1.一种特征点匹配方法,其特征在于,包括:根据SURF算法对两幅图像进行特征点匹配,获得多个特征点对;根据预先设置的斜率阈值和距离阈值对所述特征点对进行过滤,获得特征点对集合;根据RANSAC算法对所述特征点对集合中的特征点对进行误匹配剔除,获得更新后的特征点对集合;计算所述更新后的特征点对集合中的特征点对内的平均距离、距离标准差、平均斜率和斜率标准差并共同作为过滤标准,根据所述过滤标准对更新后的特征点对集合再次进行过滤,将再次过滤后的特征点对集合中的特征点对作为所述两幅图像的特征点匹配结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精伦电子股份有限公司,未经精伦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910307269.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。