[发明专利]借助辐射引发的翻转的数字测试在审
| 申请号： | 201910307845.8 | 申请日： | 2019-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN110389298A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | D·J·伯多;K·B·埃里顿 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及借助辐射引发的翻转的数字测试。当在集成电路的位置处引起辐射翻转时对所述集成电路执行数字测试。针对每个数字测试，从所述数字测试的预期输出进行关于是否存在所述数字测试的输出的变化的确定。如果存在变化，那么指示所述变化的时间。在一个例子中，可从所述变化的所述时间确定所述数字电路中的缺陷的位置。在其它实施例中，可从所述时间进行所述数字电路的映射。 | ||
| 搜索关键词： | 数字测试 翻转 辐射引发 数字电路 集成电路 时间确定 预期输出 位置处 映射 辐射 输出 | ||
【主权项】：
1.一种用于执行数字测试的方法，其特征在于，所述方法包括：运用测试系统对集成电路的数字电路执行多个数字测试，其中在每个数字测试的特定测试时间运用在所述集成电路的多个位置中的不同位置处聚焦的辐射束执行所述数字测试，其中在所述多个数字测试中的每个数字测试期间，所述辐射束处于能够翻转所述数字电路的逻辑状态的设定下；针对所述多个数字测试中的每个数字测试，运用所述测试系统从所述集成电路的预期失效数字测试输出确定是否存在所述数字电路的输出的逻辑状态的变化，并在存在变化的情况下确定相对于所述特定测试时间发生所述变化的时间。
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