[发明专利]一种阵列SAR等距离切片成像几何畸变校正方法有效

专利信息
申请号: 201910308129.1 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN110109104B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 韦顺军;闫敏;王谋;田博坤;张晓玲;师君 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/40;G01S7/41
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 曾磊
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种阵列SAR等距离切片成像几何畸变校正方法,该方法基于阵列SAR下视或侧视成像几何模型及等距离切片三维成像原理,首先计算阵列SAR成像系统天线到等距离切片每一个单元的斜距,然后根据斜距估计出等距离切片每个单元的偏移量,最后对偏移量进行插值重采样且影像单元偏移,从而实现了阵列SAR等距离切片成像几何畸变校正处理。本发明具备无需观测场景DEM先验信息、快速几何校正处理等特点,实现简单、效率高、精度高、适用性好,无需已知观测三维观测场景的DEM等先验信息,能有效解决阵列SAR等距离切片成像的几何畸变校正问题,并且可适用于稀疏阵列条件下阵列SAR等距离切片三维成像几何畸变校正。
搜索关键词: 一种 阵列 sar 等距离 切片 成像 几何 畸变 校正 方法
【主权项】:
1.一种阵列SAR等距离切片成像几何畸变校正方法,其特征是它包括以下步骤:步骤1、初始化几何畸变校正所需的阵列SAR成像系统参数:初始化几何畸变校正所需的阵列SAR成像系统参数,包括:阵列SAR的观测空间为地面三维坐标系,记为X‑Y‑Z,其中X表示水平面横轴,Y表示水平面纵轴,Z表示水平垂直轴;阵列SAR成像系统沿着Y轴平行方向进行匀速直线运动;阵列SAR成像系统天线的参考位置,记为PT且PT=(xT,yT,zT),其中xT记为天线在X轴的参考位置,yT记为天线在Y轴的参考位置,zT记为天线在Z轴的参考位置;阵列SAR成像系统的雷达入射角,记为θ;根据阵列SAR成像系统和观测方案,本发明所需的初始化阵列SAR成像系统的位置参数均为已知;步骤2、初始化阵列SAR等距离切片三维成像的影像参数:初始化阵列SAR等距离切片三维成像的影像参数,包括:阵列SAR的等距离切片三维成像空间为水平面横轴、水平面纵轴和阵列SAR距离向构成的三维空间,记为X‑Y‑R,其中该成像空间的水平面横轴和纵轴与步骤1中观测空间的水平面横轴和纵轴相同,R表示该成像空间的距离向;阵列SAR等距离切片三维成像对应的三维影像,记为I0(i,j,k);其中i,j,k分别为自然数,并且i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR,i记为三维影像I0(i,j,k)在水平面横轴X的第i个单元,j记为三维影像I0(i,j,k)在水平面纵轴Y的第j个单元,k记为三维影像I0(i,j,k)在距离向R的第k个单元,NX、NY和NR分别记为三维影像I0(i,j,k)在水平横轴、水平纵轴和距离向的单元总数,三维影像I0(i,j,k)的维数为NX×NY×NR;三维影像I0(i,j,k)中第k个距离向对应的二维图像,记为Ik(i,j),k=1,2,…,NR,其中Ik(i,j)维数为NX×NY,Ik(i,j)也称为I0(i,j,k)的第k个等距离切片;三维影像I0(i,j,k)在水平面横轴、水平面纵轴和距离向的相邻单元间距,分别记为dx、dy和dr;第k个等距离切片Ik(i,j)中第i个横轴、第j个纵轴对应单元的位置,记为Qk(i,j),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR;第k个等距离切片Ik(i,j)的参考位置中心,记为Ok,k=1,2,…,NR;根据阵列SAR等距离切片三维成像处理方案,本发明所需的初始化阵列SAR等距离切片三维成像的影像参数均为已知;步骤3、计算阵列SAR天线至影像单元的斜距:采用公式Rk(i,j)=||PT‑Qk(i,j)||2,计算得到阵列SAR天线至第k个等距离切片Ik(i,j)中所有单元的斜距,记为Rk(i,j),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR,其中,PT为步骤1初始化得到的阵列SAR成像系统天线的参考位置,Qk(i,j)为步骤2初始化得到的第k个等距离切片Ik(i,j)中第i个横轴、第j个纵轴对应单元的位置,||·||2表示向量的L2范数运算符号;采用公式R0(k)=||Ok‑PT||2计算得到阵列SAR天线至第k个等距离切片Ik(i,j)的参考斜距,记为R0(k),k=1,2,…,NR,其中Ok为步骤2初始化得到的第k个等距离切片Ik(i,j)的参考位置中心;步骤4、计算等距离切片所有单元的相对位置偏移:采用公式Dk(i,j)=[Rk(i,j)‑R0(k)]/dr,计算得到第k个等距离切片Ik(i,j)中所有单元的相对位置偏移量,记为Dk(i,j),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR,其中dr为步骤2初始化得到的三维影像I0(i,j,k)在距离向的相邻单元间距,Rk(i,j)为步骤3得到的阵列SAR天线至第k个等距离切片Ik(i,j)中所有单元的斜距,R0(k)为步骤3得到的阵列SAR天线至第k个等距离切片Ik(i,j)的参考斜距;步骤5、逐点对等距离切片单元进行位置偏移:采用标准图像单元位置偏移方法,对Ik(i,j)中所有单元按照偏移量Dk(i,j)进行位置偏移,得到位置偏移后的第k个等距离切片,记为i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR,其中Ik(i,j)为步骤2初始化得到的三维影像I0(i,j,k)中第k个等距离向切片,Dk(i,j)为步骤4得到的第k个等距离切片Ik(i,j)中所有单元的相对位置偏移量;步骤6、等距离切片合成三维影像:采用公式计算得到阵列SAR三维影像,记为IS(i,j,k),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,k=1,2,…,NR,其中为步骤5得到的位置偏移后的第1个等距离切片,为步骤5得到的位置偏移后的第2个等距离切片,为步骤5得到的位置偏移后的第NR个等距离切片;步骤7、三维影像进行插值重采样:采用标准SINC函数插值重采样方法对三维影像IS(i,j,k)进行插值重采样,得到插值重采样后的阵列SAR三维影像,记为I′S(i,j,l),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,l=1,2,…,NZ,其中NZ记为插值重采样后三维图像I′S(i,j,l)在水平面垂直轴Z的单元总数,l为自然数,l表示为三维影像I′S(i,j,l)在水平面垂直轴Z的第l个单元,IS(i,j,k)为步骤6得到的阵列SAR三维影像;步骤8、三维影像进行水平垂直轴校正:将步骤7得到的三维影像I′S(i,j,l)在水平垂直轴Z的位置值乘以1/(1+cos(θ)),得到水平垂直轴校正后的阵列SAR三维影像,记为IF(i,j,l),i=1,2,…,NX,j=1,2,…,NY,l=1,2,…,NZ,其中θ为步骤1初始化得到的阵列SAR成像系统雷达入射角,cos(·)为余弦函数符号;IF(i,j,l)即为阵列SAR等距离切片三维成像几何校正后的最终影像。
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