[发明专利]一种可编程芯片的编程测试装置

摘要

本发明提出一种芯片的编程测试装置，包括CPU模块、SPI模块、电源转换保护模块、功能切换模块，还可以包括LED指示模块、USB传输模块和键盘控制模块，还可包括两个或两个以上的SPI接口，实现多个芯片批量烧写。本发明提供的可编程芯片的编程测试装置无需将芯片反复插拔，简化人工操作的步骤，也无需使用计算机，完全替代原有烧写器，连接上电源即可自动进行编程和测试程序，而且不需要使用串口或并口模拟SPI通信，而是直接使用SPI接口对芯片进行编程，速度最高可达20Mbps，同时可支持多达17个芯片同时进行编程测试，大大提高编程效率，适合批量生产测试。

主权项

1.一种可编程芯片的编程测试装置，其特征在于，包括以下模块：CPU模块，用于控制整个装置进行逻辑运算及程序下载，运行参数的读取、测试、分析及校验；SPI模块，用于在CPU模块与目标芯片之间建立通信，并判断当前芯片状态，对芯片编程并连接已编程芯片进入测试阶段；电源转换保护模块，用于提供供电电源，在芯片编程和运行状态进行切换时，对芯片及CPU模块进行电源保护，通过检测芯片及CPU模块的电流和电压，判断是否出现短路和过流、是否出现过压欠压，当检测值大于预设值时，断开目标板的电源连接并指示错误；功能切换模块，通过控制电源切换在命令操作模式和正常操作模式之间进行切换，包括两种研究阶段和批量生产阶段两种不同的工作方式；LED指示模块，用于对在编程准备时、编程过程中及测试过程中的状态进行提示。