[发明专利]干扰测量方法及相应设备在审
申请号: | 201910311687.3 | 申请日: | 2019-04-18 |
公开(公告)号: | CN111835442A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 张闯;钱辰;苏笛;林鹏;喻斌 | 申请(专利权)人: | 北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社 |
主分类号: | H04B17/345 | 分类号: | H04B17/345;H04B17/382;H04L5/00;H04W72/12 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 徐璐璐;曾世骁 |
地址: | 100028 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种干扰测量方法及相应设备。所述干扰测量方法包括:从基站接收下行参考信号;基于接收到的第一类别的下行参考信号,获取接收到的第一类别的下行参考信号所在的时频资源上进行上行传输的用户设备对当前用户设备的同道干扰或自干扰的干扰强度信息、或用于基站获取所述同道干扰或所述自干扰的干扰强度信息的信息;将获取的干扰强度信息或用于基站获取干扰强度信息的信息上报到基站,其中,第一类别的下行参考信号为:所在的时频资源上存在调度的上行传输的下行参考信号。根据所述干扰测量方法及相应设备,能够准确地测量用户设备间的同道干扰或用户设备的自干扰的干扰强度。 | ||
搜索关键词: | 干扰 测量方法 相应 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社,未经北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910311687.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。