[发明专利]干扰测量方法及相应设备在审

专利信息
申请号: 201910311687.3 申请日: 2019-04-18
公开(公告)号: CN111835442A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 张闯;钱辰;苏笛;林鹏;喻斌 申请(专利权)人: 北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社
主分类号: H04B17/345 分类号: H04B17/345;H04B17/382;H04L5/00;H04W72/12
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 徐璐璐;曾世骁
地址: 100028 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 提供了一种干扰测量方法及相应设备。所述干扰测量方法包括:从基站接收下行参考信号;基于接收到的第一类别的下行参考信号,获取接收到的第一类别的下行参考信号所在的时频资源上进行上行传输的用户设备对当前用户设备的同道干扰或自干扰的干扰强度信息、或用于基站获取所述同道干扰或所述自干扰的干扰强度信息的信息;将获取的干扰强度信息或用于基站获取干扰强度信息的信息上报到基站,其中,第一类别的下行参考信号为:所在的时频资源上存在调度的上行传输的下行参考信号。根据所述干扰测量方法及相应设备,能够准确地测量用户设备间的同道干扰或用户设备的自干扰的干扰强度。
搜索关键词: 干扰 测量方法 相应 设备
【主权项】:
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