[发明专利]一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法、系统及装置有效
| 申请号： | 201910313349.3 | 申请日： | 2019-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN110111835B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王朋 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/54 | 分类号： | G11C29/54;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法、系统及装置，包括：S11：按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的测试数据；S12：记录待测固态硬盘的IOPS；S13：重复执行S11，直至达到预设的测量轮次，利用测量窗口内每轮得到的待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率；S14：判断是否满足稳态判断条件；S15：如果是，则记录测量窗口内每轮得到的待测固态硬盘的IOPS，得到待测固态硬盘的稳态IOPS曲线；S16：如果否，返回S11，直至达到预设的终止轮次；本申请明确设定了稳态判断条件，确保了输出的稳态IOPS曲线的准确性，同时，无需通过前后多组测试结果来判断是否达到稳态，节省了测试时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nvme 固态 硬盘 iops 测试 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
1.一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，包括：S11：按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的测试数据；其中，所述待测固态硬盘为在存储数据为空的状态下，重新写满数据的额定大小的数据的硬盘，所述测试数据的大小为预设的数据块大小；S12：记录所述待测固态硬盘的IOPS；S13：重复执行S11，直至达到预设的测量轮次，利用测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率；其中，IOPS斜率为测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS拟合的直线的斜率；S14：判断是否同时满足最大IOPS和最小IOPS之差小于等于平均IOPS的10％，最大IOPS和最小IOPS之差等于IOPS斜率的所述测量轮次减一倍；S15：如果是，则记录所述测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS，得到所述待测固态硬盘的稳态IOPS曲线；S16：如果否，返回S11，直至达到预设的终止轮次。
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