[发明专利]一种基于图像识别技术与统计理论的纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法在审
| 申请号： | 201910322135.2 | 申请日： | 2019-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN110046589A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 王自力;孙仲超;钱诚;孙博;任羿;冯强;杨德真 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06T7/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于图像识别技术与统计理论的纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法，属于功率半导体器件封装领域，步骤如下：1.建立基于烧结区域的孔隙表征二维笛卡尔坐标系；2.建立孔隙图像处理方法与孔隙识别流程；3.计算烧结体的孔隙率；4.建立并提取描述孔隙尺寸与空间分布的表征参数l、r和α，并对参数l进行归一化处理；5.统计提取得到的孔隙参数l、r和α的分布规律，并引入统计分布函数F表征上述各参数的分布趋势，完成纳米银烧结体随机分布孔隙的表征。 | ||
| 搜索关键词： | 空间分布 纳米银 图像识别技术 烧结 烧结体 体内部 功率半导体器件封装 笛卡尔坐标系 统计分布函数 归一化处理 统计 表征参数 分布规律 分布趋势 孔隙参数 烧结区域 随机分布 图像处理 孔隙率 二维 引入 | ||
【主权项】：
1.一种基于图像识别技术与统计理论的纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法，其特征在于它包含以下步骤：第一步：建立了基于烧结区域的孔隙表征二维笛卡尔坐标系；第二步：建立了孔隙识别图像处理方法与识别流程；第三步：分别提取孔隙及烧结银的面积，计算纳米银烧结体的孔隙率；第四步：基于第一步中建立的坐标系，建立纳米银烧结体随机分布孔隙的参数表征体系，依次提取每个孔隙的表征参数(包括l、r和α)取值，并对参数l进行归一化处理；第五步：统计第四步中提取得到的各表征参数数值分布的情况，进一步引入统计分布函数F表征上述各表征参数的分布趋势，完成纳米银烧结体随机分布孔隙的表征；本发明通过以上步骤，给出了应用于纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法。
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