[发明专利]一种LED多芯片模组的光、色性能预测方法有效
申请号: | 201910322410.0 | 申请日: | 2019-04-22 |
公开(公告)号: | CN110057551B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 樊嘉杰;陈威;谢超逸;李宇彤;刘杰 | 申请(专利权)人: | 河海大学常州校区 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01R31/44 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 213022 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了半导体照明技术领域的一种LED多芯片模组的光、色性能预测方法,旨在解决现有技术中预测LED多芯片模组的光、色性能模型复杂,公式繁琐的技术问题。采集LED多芯片模组中某一颗LED的结温以及光谱;使用光谱模型对采集到的单颗LED光谱进行拆解,得到对应的光谱特征参数,对各个光谱特征参数进行拟合,得出各特征参数关于电流、LED的结温的表达式,建立单颗LED的电‑热‑光‑色耦合模型;使用温度仿真软件求出每颗LED的结温;求出每颗LED对应的光谱;使用光学仿真软件求得LED多芯片模组的光、色参数。本发明所述预测方法流程简单,操作简便,减少了测量时间以及计算时间,提高了LED多芯片模组的输出光质量,节约了LED多芯片模组的生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 模组 性能 预测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种LED多芯片模组的光、色性能预测方法,其特征是,包括如下步骤:采用变温变电流实验采集LED多芯片模组中某一颗LED的结温以及光谱;使用光谱模型对采集到的单颗LED光谱进行拆解,得到对应的光谱特征参数,对各个光谱特征参数进行拟合,得出各特征参数关于电流、LED的结温的表达式,建立单颗LED的电‑热‑光‑色耦合模型;根据LED多芯片模组中每颗LED的输入功率以及环境温度,使用温度仿真软件可求出每颗LED的结温;根据每颗LED的电流、结温,结合单颗LED的电‑热‑光‑色耦合模型,求出每颗LED对应的光谱;使用光学仿真软件求得LED多芯片模组的光、色参数。
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