[发明专利]接口测试方法、装置、介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 201910323400.9 申请日: 2019-04-22
公开(公告)号: CN110059011A 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 郭又新 申请(专利权)人: 泰康保险集团股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李玉锁;章侃铱
地址: 100031 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开实施例涉及信息技术领域,提供一种接口测试方法、装置、介质及电子设备,该接口测试方法包括:根据不同接口的接口文档生成多个测试用例,其中所述多个测试用例之间不重复;根据所述接口文档描述的地址将所述多个测试用例分别发送到目标地址;通过所述目标地址对来自所述不同接口的测试请求相应的响应进行拦截,对拦截的响应值进行后置条件验证;对错误的测试样例进行修复,并在修复成功后进行回归测试。本公开实施例对错误的测试样例进行修复后继续利用在回归测试中,可以随时修改接口文档,随时进行测试,省去多部门协作的成本消耗,加快测试效率。
搜索关键词: 接口测试 接口文档 测试 电子设备 回归测试 目标地址 测试样 修复 拦截 信息技术领域 测试请求 测试效率 成本消耗 后置条件 响应 验证 重复 协作 成功
【主权项】:
1.一种接口测试方法,其特征在于,包括:根据不同接口的接口文档生成多个测试用例,其中所述多个测试用例之间不重复;根据所述接口文档描述的地址将所述多个测试用例分别发送到目标地址;通过所述目标地址对来自所述不同接口的测试请求相应的响应进行拦截,对拦截的响应值进行后置条件验证;对错误的测试样例进行修复,并在修复成功后进行回归测试。
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