[发明专利]一种探测等离子体性质的准光光路装置

摘要

本发明公开了一种探测等离子体性质的准光光路装置，包括：微波信号源、准光照射光路、准光反射光路、待测等离子体；准光照射光路包括扩束镜、分光镜、变焦透镜组、聚焦透镜组；准光反射光路与准光照射光路共用聚焦透镜组、变焦透镜组、分光镜，还包括反射镜和E面成像透镜；本发明主能较好的实现对等离子体性质的探测，变焦透镜组的设计，实现了简易、方便的变焦，能够连续的调节准光光学系统的分辨率；在调节变焦透镜组改变准光光学系统的分辨率的时候，在到达等离子体面的波前曲率改变很小的情况下，就能实现分辨率调节的要求，保证了此波前曲率与等离子体面的高度匹配，减少了测量的误差，整个准光光学系统的性能更好。

主权项

1.一种探测等离子体性质的准光光路装置，其特征在于，所述装置包括：微波信号源、准光照射光路、准光反射光路、待测等离子体；微波信号源通过天线将毫米波以高斯光束形式发出，然后经过准光照射光路入射到待测等离子体上进行反射，反射光束经过准光反射光路到达探测天线，探测天线通过对微波信号源发出的信号与经过反射后的信号进行混频和鉴相，探测出信号的相位变化，从而确定等离子体的性质；准光照射光路包括：扩束镜、分光镜、变焦透镜组、聚焦透镜组；入射高斯光束依次经过扩束镜、分光镜、变焦透镜组、聚焦透镜组入射到待测等离子体上进行反射；准光反射光路包括与准光照射光路共用的聚焦透镜组、变焦透镜组、分光镜，准光反射光路还包括反射镜和E面成像透镜；反射光束依次经过聚焦透镜组、变焦透镜组、分光镜、反射镜、E面成像透镜；经过E面成像透镜后的信号照射到探测天线上。