[发明专利]一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法有效
| 申请号： | 201910325076.4 | 申请日： | 2019-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN110082313B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 陈峰;张培;许晴;张德龙 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 杜文茹 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法，将待测微纳材料与溴代萘有机溶剂以小于30％的体积比例均匀混合形成稳定悬浊液，使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率，将测得的折射率分别代入麦克斯韦‑加内特模型计算，得到待测微纳材料的折射率。本发明可测量材料折射率范围比较大，所以只要待测微纳材料与溴代萘有机溶剂形成的稳定悬浊液以及溴代萘有机溶剂的折射率介于棱镜耦合仪测量范围内即可测量；达到的测量精度高，可以达到10 |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 棱镜 耦合 材料 折射率 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法，其特征在于：将待测微纳材料与溴代萘有机溶剂以小于30％的体积比例均匀混合形成稳定悬浊液，使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率，将测得的折射率分别代入麦克斯韦‑加内特模型计算，得到待测微纳材料的折射率。
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