[发明专利]芯片气泡的检测方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910326503.0 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN110097542B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 张小虎;林彬;王扬洋;叶雪辀;甘叔玮;杨夏 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T3/60;G06T7/11
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 510275 *** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种芯片气泡的检测方法,包括以下步骤:根据获取待测芯片的结构信息进行多层结构建模,再获取芯片图像,基于芯片结构轮廓对图像进行多区自动分割,识别出各目标区域,对所述芯片图像进行图像二值化处理,得到二值化图像,识别所述二值化图像中各目标区域的灰度值非零的像素点,并根据所述灰度值非零的像素点确定各目标区域的气泡轮廓,对所有区域的气泡进行相应的气泡大小以及气泡位置的统计。本发明还公开了一种芯片气泡的检测装置以及计算机可读存储介质。本发明提高了芯片气泡检测的效率。
搜索关键词: 芯片 气泡 检测 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种芯片气泡的检测方法,其特征在于,所述芯片气泡的检测方法包括以下步骤:获取芯片图像,所述芯片图像通过拍摄待检测芯片得到;对所述芯片图像进行图像二值化处理,得到二值化图像;根据所述二值化图像中灰度值非零的像素点,确定所述芯片图像中的气泡。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910326503.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top