[发明专利]基于光纤光栅技术的土工格栅受力的直接测量方法有效

专利信息
申请号: 201910331200.8 申请日: 2019-04-24
公开(公告)号: CN110031138B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 刘倩萁;张孟喜;韩佳尧;张涛涛;金琦 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01L1/24 分类号: G01L1/24
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于光纤光栅技术的土工格栅受力的直接测量方法。本方法包含两个步骤:光纤光栅半紧套结构的封装以及土工格栅受力参数直接测量的标定方法;结合不同规格与粗糙度的套管,实现半紧套封装结构,在保证变形协调性的同时,保护光栅;通过一种用于测得土工格栅受力参数的标定方法,通过半紧套传感结构土工格栅的系统拉伸试验,实现受力参数的直接测量;对光栅区段的套管进行粗糙度处理,实现格栅表面与护套间的界面相容性。本发明在土工格栅受力直接测量的基础上,提高光纤使用寿命,防止结构胶对格栅强度的改变,提高套管与土工格栅表面间紧紧咬合的界面相容性,保证套管与土工格栅的协调变形,易于操作、成本低廉、便于推广使用。
搜索关键词: 基于 光纤 光栅 技术 土工 格栅 直接 测量方法
【主权项】:
1.基于光纤光栅技术的土工格栅受力的直接测量方法,其特征是具体操作步骤为:第一步,结合不同规格、不同粗糙度的套管,通过结构胶与套管对光纤光栅进行点式固定,实现光纤光栅的半紧套封装结构,在保证变形协调性的同时,达到保护光栅的作用;第二步,通过对于土工格栅的拉伸(1),经过一种用于测得土工格栅(1)受力参数的标定方法,实现受力参数的直接测量。
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