[发明专利]系统功能测试装置有效
申请号: | 201910331230.9 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN111829800B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 张顺凯;黄彦舜;郑君伍 | 申请(专利权)人: | 上银科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的系统功能测试装置包括第一定时器、第二定时器及处理器。第二定时器耦接第一定时器。处理器耦接第一定时器及第二定时器,且接收系统信号。第一定时器及第二定时器建立开机及关机测试时序。在开机及关机测试时序中,且系统信号包括错误信息时,处理器锁定第一定时器的状态,且停止开机及关机测试时序。 | ||
搜索关键词: | 系统 功能 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上银科技股份有限公司,未经上银科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910331230.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多柱交汇体
- 下一篇:一种基于VC与MATLAB的车牌汉字字符识别系统