[发明专利]一种用于保护元器件的抗辐射控制器芯片、控制器及方法在审
| 申请号： | 201910331843.2 | 申请日： | 2019-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN109947695A | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 秦学成;张薇;刘刚 | 申请（专利权）人： | 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F15/78 | 分类号： | G06F15/78 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张雪梅 |
| 地址： | 101111 北京市大兴区经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于保护元器件的抗辐射控制器芯片，所述抗辐射控制器芯片包括：射线探测器、带隙基准器、信号比较器和控制器，所述射线探测器，受到放射线辐射后向所述信号比较器发送辐射模拟信号；所述带隙基准器，持续向所述信号比较器发送基准电压信号；所述信号比较器，比对所述辐射模拟信号和所述基准电压信号得到模拟信号，并将所述模拟信号发送至所述控制器；所述控制器，响应于接收到所述模拟信号，控制被保护集成元器件电路的开闭。采用所述芯片，降低了放射对集成电路元器件的影响，用于实现对放射环境射线监测及对集成元器件的开关控制，同时兼具较高的灵敏度，较高的稳定性等。 | ||
| 搜索关键词： | 信号比较器 控制器 控制器芯片 抗辐射 元器件 基准电压信号 射线探测器 带隙基准 辐射模拟 模拟信号 放射 集成电路元器件 模拟信号发送 发送 放射线辐射 元器件电路 开关控制 灵敏度 比对 后向 开闭 射线 芯片 响应 监测 | ||
【主权项】：
1.一种用于保护元器件的抗辐射控制器芯片，其特征在于，所述抗辐射控制器芯片包括：射线探测器、带隙基准器、信号比较器和控制器，所述射线探测器，受到放射线辐射后向所述信号比较器发送辐射模拟信号；所述带隙基准器，持续向所述信号比较器发送基准电压信号；所述信号比较器，比对所述辐射模拟信号和所述基准电压信号得到模拟信号，并将所述模拟信号发送至所述控制器；所述控制器，响应于接收到所述模拟信号，控制被保护集成元器件电路的开闭。
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