[发明专利]一种对光照变化鲁棒的荧光胶缺陷分割方法有效
申请号: | 201910335513.0 | 申请日: | 2019-04-24 |
公开(公告)号: | CN110610496B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 高健;罗瑞荣;郑卓鋆;周浩源;胡浩晖;张揽宇;陈新 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T7/12;G06T7/136;G06T7/00;G06T5/00;G06T5/40 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及机器视觉检测技术领域,更具体地,涉及一种基于机器视觉和图像处理的荧光胶缺陷检测方法,具体步骤如下:(1)利用局部灰度梯度分析图像特征,结合最小二乘法拟合荧光胶区域轮廓,准确定位荧光胶区域;(2)在步骤(1)之后,利用对光照敏感区域的灰度均值与大律法Otsu分割阈值建立适应光亮度的阈值自调整方程;(3)在步骤(2)之后,用所得阈值对定位到的荧光胶区域进行分割,在保证荧光胶缺陷分割对光照变化具备鲁棒性的同时,快速鲁棒地完成荧光胶缺陷分割。提供一种对光照鲁棒的荧光胶缺陷分割方法,对光照图像进行处理和运算,完成对光照产品中荧光胶的异物、气泡、变色缺陷的检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 光照 变化 荧光 缺陷 分割 方法 | ||
【主权项】:
1.一种对光照变化具有鲁棒性的荧光胶缺陷分割方法,其特征在于,具体步骤如下:/n(1)利用局部灰度梯度分析图像特征,结合最小二乘法拟合荧光胶区域轮廓,准确定位荧光胶区域;/n(2)在步骤(1)之后,利用对光照敏感区域的灰度均值与大津法Otsu分割阈值建立适应光亮度的阈值自调整方程;/n(3)在步骤(2)之后,用所得阈值对定位到的荧光胶区域进行分割,在保证荧光胶缺陷分割对光照变化具备鲁棒性的同时,快速鲁棒地完成荧光胶缺陷分割。/n
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