[发明专利]一种天线面形测量方法有效
| 申请号： | 201910337102.5 | 申请日： | 2019-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN109974636B | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 叶骞;金惠良;黄剑辉 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01B15/04 | 分类号： | G01B15/04;G01B15/06 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杜阳阳 |
| 地址： | 200000 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种天线面形测量方法，将待测天线的馈源对准微波信号源并固定，在待测天线的馈源前端放置波束遮盖，所述波束遮盖将进入馈源的微波波束均匀划分成若干份，并控制每一份波束是否进入馈源，依次控制每一份波束轮流进入馈源，并测量和记录每一份波束的强度数据，依次控制每相邻两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相邻两份波束的强度数据，依次控制每相间两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相间两份波束的强度数据，根据每一份波束的强度数据、每相邻两份波束的强度数据和每相间两份波束的强度数据代数求解不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差。本发明公开的天线面形测量方法，能够快速、准确地得到天线反射面变形。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种天线面形测量方法，其特征在于，包括：将待测天线的馈源对准微波信号源并固定；在待测天线的馈源前端放置波束遮盖，所述波束遮盖将进入馈源的微波波束均匀划分成若干份，并控制每一份波束是否进入馈源；依次控制每一份波束轮流进入馈源，并测量和记录每一份波束的强度数据；依次控制每相邻两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相邻两份波束的强度数据；依次控制每相间两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相间两份波束的强度数据；根据每一份波束的强度数据、每相邻两份波束的强度数据和每相间两份波束的强度数据代数求解不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学，未经上海交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910337102.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
