[发明专利]一种快速响应的动态锁存比较器有效
申请号: | 201910338368.1 | 申请日: | 2019-04-25 |
公开(公告)号: | CN110034765B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 樊华;杨静萱;冯全源;蔡经纬;李大刚;胡达千;岑远军 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H03M1/44 | 分类号: | H03M1/44 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 陈一鑫 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种快速响应的动态锁存比较器,应用的技术领域是逐次逼近模数转换器。本发明的特征在于,提高复位时的比较器输出电压,有效提高比较器响应速度;因而本发明技术方案为一种快速响应的动态锁存比较器,该比较器包括:预放大结构和锁存结构。本发明提出的动态锁存比较器相比,本发明提出的动态锁存比较器响应时间更快。 | ||
搜索关键词: | 一种 快速 响应 动态 比较 | ||
【主权项】:
1.一种快速响应的动态锁存比较器,该比较器包括:预放大结构和锁存结构,其中:预放大结构包括:两个PMOS管:第一PMOS管(M7)、第二PMOS管(M8);四个NMOS管:第一NMOS管(M1)、第二NMOS管(M4)、第三NMOS管(M5)、第四NMOS管(M6)、电容Cc、第一寄生电容、第二寄生电容;其中:第一PMOS管(M7)漏极接第三NMOS管(M5)漏极,第一PMOS管(M7)的栅极输入时钟信号(CLK),第一PMOS管(M7)的源极输入VDD信号,第三NMOS管(M5)的栅极接所述第一全差分输入信号(VIP),而第三NMOS管(M5)的漏极接第一寄生电容并且作为第一输出端XP,所述第一寄生电容另一端接地;第三NMOS管(M5)源极接第二NMOS管(M4)的漏极,第二NMOS管(M4)源极接第一NMOS管(M1)的漏极,第一NMOS管(M1)的源极接地,第一NMOS管(M1)的栅极接时钟CLKN,所述第二NMOS管(M4)源极与第一NMOS管(M1)漏极的共节点连接电容Cc的一端,电容Cc的另一端接地;改变在复位状态使第二NMOS管(M4)漏极电压从而构成低功耗预防大电路结构;所述第一PMOS管(M7)、第二PMOS管(M8)的源级都与电源电压(VDD)相连;第二PMOS管(M8)漏级接第四NMOS管(M6)的漏级,第二PMOS管(M8)的栅极输入时钟信号(CLK),第二PMOS管(M8)的源极输入VDD信号,第四NMOS管(M6)的栅极接所述第一全差分输入信号(VIN),而第四NMOS管(M6)的漏极接第二寄生电容并且作为第二输出端XN,所述第二寄生电容另一端接地;第四NMOS管(M6)源极接第二NMOS管(M4)的漏极;所述锁存结构,含有降低响应时间电路和锁存输出电路,其中:降低响应时间电路,含有:八个PMOS管:第三PMOS管(M2d)、第四PMOS管(M2f)、第五PMOS管(M2g)、第六PMOS管(M2h)、第七PMOS管(M3d)、第八PMOS管(M3f)、第九PMOS管(M3g)和第十PMOS管(M3h);八个NMOS管:第五NMOS管(M2a)、第六NMOS管(M2b)、第七NMOS管(M2c)、第八NMOS管(M2e)、第九NMOS管(M3a)、第十NMOS管(M3b)、第十一NMOS管(M3c)以及第十二NMOS管(M3e),其中:所述降低响应时间电路:第一降低响应时间输入信号(XP)子电路,第二降低响应时间输入信号(NP)子电路,其中:第一降低响应时间输入信号(XP)子电路为:所述第五NMOS管(M2a)的源极接地,栅极作为第一输出端XP,然后依次串联第七NMOS管(M2c)、第四PMOS管(M2f)、第六PMOS管(M2h);所述第六NMOS管(M2b)的源极接地,漏极接第三PMOS管(M2d)的漏极,第六NMOS管(M2b)的栅极连接第五NMOS管(M2a)与第七NMOS管(M2c)的共节点;第七NMOS管(M2c)的栅极连接第六NMOS管(M2b)与第三PMOS管(M2d)的共接点的同时连接第三PMOS管(M2d)的栅极;所述第八NMOS管(M2e)的源极接地,漏极连接第五PMOS管(M2g)的漏极;第五PMOS管(M2g)的栅极与漏极共接后连接第六PMOS管(M2h)与第四PMOS管(M2f)的共接点,第五PMOS管(M2g)源极、第三PMOS管(M2d)的源极、第六PMOS管(M2h)的源极共接;所述第六PMOS管(M2h)的栅极作为第一输出端XP;第二降低响应时间输入信号(NP)子电路为:所述第九NMOS管(M3a)的源极接地,栅极接第一输出端XN,然后依次串联第十一NMOS管(M3c)、第八PMOS管(M3f)、第十PMOS管(M3h);所述第十NMOS管(M3b)的源极接地,漏极接第七PMOS管(M3d)的漏极,第十NMOS管(M3b)的栅极连接第九NMOS管(M3a)与第十一NMOS管(M3c)的共节点;第十一NMOS管(M3c)的栅极连接第十NMOS管(M3b)与第七PMOS管(M3d)的共接点的同时连接第七PMOS管(M3d)的栅极;所述第十二NMOS管(M3e)的源极接地,漏极连接第九PMOS管(M3g)的漏极;第九PMOS管(M3g)的栅极与漏极共接后连接第十PMOS管(M3h)与第八PMOS管(M3f)的共接点,第九PMOS管(M3g)源极、第七PMOS管(M3d)的源极、第十PMOS管(M3h)的源极共接;所述第十PMOS管(M3h)的栅极连接第一输出端XN;所述锁存输出电路包括:三个PMOS管:第十一PMOS管(M9f)和第十二PMOS管(M9g),第十三PMOS管(M9d);四个NMOS管:第十三NMOS管(M9a)、第十四NMOS管(M9b)、第十五NMOS管(M9c)和第十六NMOS管(M9e),其中:第十三NMOS管(M9a)的源极、第十四NMOS管(M9b)的源极、第十五NMOS管(M9c)的源极和第十六NMOS管(M9e)的源极共同接地,所述第十三NMOS管(M9a)的漏极、第十四NMOS管(M9b)的漏极、第十五NMOS管(M9c)的栅极共同接作为最终的输出端(OUTN),第十四NMOS管(M9b)的栅极、第十五NMOS管(M9c)的漏极、第十六NMOS管(M9e)的漏极共同接作为最终的输出端(OUTP);所述第十四NMOS管(M9b)的栅极连接第十一PMOS管(M9f)的栅极,所述第十四NMOS管(M9b)的漏极连接第十一PMOS管(M9f)的漏极;所述第十五NMOS管(M9c)的漏极连接第十二PMOS管(M9g)的漏极,所述第十一PMOS管(M9f)的源极、第十二PMOS管(M9g)的源极、第十三PMOS管(M9d)的漏极共接;所述第十三PMOS管(M9d)的栅极接时钟CLK,源极接VDD;所述第十三NMOS管(M9a)的栅极连接第七NMOS管(M2c)与第四PMOS管(M2f)的共节点,所述第十六NMOS管(M9e)的栅极连接第十一NMOS管(M3c)与第八PMOS管(M3f)的共节点;所述第十一PMOS管(M9f)的源极与第十PMOS管(M3h)的源极连接;所述预放大结构的第一输出端(XP)与第一降低响应时间输入信号(XP)子电路中的第一输出端XP连接,所述预放大结构的第二输出端(XN)与第二降低响应时间输入信号(XN)子电路中的第二输出端XN连接。
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