[发明专利]γ射线检测器在审
| 申请号： | 201910339439.X | 申请日： | 2019-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN110412641A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 大田良亮;须山本比吕;下井英树 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | γ射线检测器是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管。入射窗是切伦科夫辐射体。光电面隔着中间层形成于入射窗中的真空侧的面。中间层的厚度为通过γ射线与入射窗相互作用而释放的切伦科夫光的波长以下。 | ||
| 搜索关键词： | 入射窗 射线检测器 中间层 射线 检测器 光电倍增管 辐射体 光电面 波长 释放 检测 | ||
【主权项】：
1.一种γ射线检测器，其中，是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管，所述入射窗是切伦科夫辐射体，所述光电面隔着中间层而形成于所述入射窗中的真空侧的面，所述中间层的厚度为通过所述γ射线与所述入射窗相互作用而释放的切伦科夫光的波长以下。
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