[发明专利]一种FPGA寄存器级单粒子翻转故障模拟方法和系统有效
| 申请号： | 201910344068.4 | 申请日： | 2019-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN110188012B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 张天序;刘康;陈立群;颜露新;钟胜;张磊 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/263 |
| 代理公司： | 42201 华中科技大学专利中心 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA寄存器级单粒子翻转故障模拟方法和系统，属于电子设备可靠性分析技术领域。包括：S1.被测电路在FPGA中被实例化为电路CUT_0，所述被测电路包含大量寄存器；S2.生成故障注入序列，所述故障注入序列包括至少一个目标寄存器组；S3.向CUT_0电路输入激励，并在故障注入序列的指导下，用目标寄存器组控制CUT_0电路中对应寄存器的输出翻转。本发明直接对FPGA功能电路中的寄存器操作，模拟各种寄存器组合受单粒子轰击被打翻的现象，定位准确，产生了大量有价值的仿真数据。本发明将被测电路实例化为CUT_0和CUT_1，CUT_0输出结果受SEU影响，CUT_1输出结果正常，比较CUT_0和CUT_1的输出，比较结果对指导SEU重点防护具有极为重要的指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 被测电路 寄存器 单粒子翻转故障 目标寄存器 寄存器级 输出结果 电路 电子设备可靠性 单粒子轰击 寄存器操作 打翻 电路输入 定位准确 仿真数据 功能电路 输出 组控制 翻转 防护 分析 | ||
【主权项】：
1.一种FPGA寄存器级单粒子翻转故障模拟方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/nS1.被测电路在FPGA中被实例化为电路CUT_0，所述被测电路包含大量寄存器；/nS2.通过故障注入模式，生成故障注入序列，所述故障注入序列包括至少一个目标寄存器组；/nS3.向CUT_0电路输入激励，并在故障注入序列的指导下，用目标寄存器组控制CUT_0电路中对应寄存器的输出翻转；/n所述通过故障注入模式生成故障注入序列，具体如下：/n选择至少一种故障注入模式，所述故障注入模式是按照发生故障的寄存器数量相同和/或位置相同原则对目标寄存器组进行归类；/n将被选择模式下包含的所有目标寄存器组排列，生成故障注入序列；/n所述故障注入模式按照发生故障的寄存器的数量对目标寄存器组进行归类时，所述故障注入模式包括：j个寄存器故障模式，所述j个寄存器故障模式包含只有j个寄存器故障的所有目标寄存器组，j＝1,2,…；/n所述故障注入模式按照发生故障的寄存器的位置对目标寄存器组进行归类时，所述故障注入模式包括：第i级寄存器故障模式，所述第i级寄存器故障模式包含第i级位置的至少一个寄存器故障的所有目标寄存器组，i＝1,2,…；/n所述故障注入模式按照发生故障的寄存器的数量和位置对目标寄存器组进行归类时，所述故障注入模式包括：第i级j个寄存器故障模式，所述第i级j个寄存器故障模式包含第i级位置、j个寄存器故障的所有目标寄存器组，i＝1,2,…，j＝1,2,…。/n
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