[发明专利]一种基于阵列探测法的激光光斑恢复方法有效

专利信息
申请号: 201910345199.4 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110398286B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 富容国;周鸣;杜振伟;陈江南;段赐琛;张红;钱芸生;刘磊;张俊举;张益军;邱亚峰 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44;G06T5/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱宝庆
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种基于阵列探测法的激光光斑恢复方法,包括以下步骤:对阵列探测器光强分布的四周非密集区域进行双线性插值和反双线性插值计算,对得到的双线性和反双线性插值进行加权平均融合,得到完整的光斑分布;根据初始的光强分布得到光斑中心,并且在光斑中心周围取若干探测点,通过光斑中心位置和探测点的高斯拟合得到理想的光斑的高斯分布图像;将高斯拟合得到理想光斑分布图像和完整的光斑分布图像进行融合,其中融合系数为各拟合像素位置到光斑中心距离的倒数。
搜索关键词: 一种 基于 阵列 探测 激光 光斑 恢复 方法
【主权项】:
1.一种基于阵列探测法的激光光斑恢复方法,其特征在于,包括以下步骤:对阵列探测器光强分布的四周非密集区域进行双线性插值和反双线性插值计算,对得到的双线性和反双线性插值进行加权平均融合,得到完整的光斑分布;根据初始的光强分布得到光斑中心,并且在光斑中心周围取若干探测点,通过光斑中心位置和探测点的高斯拟合得到理想的光斑的高斯分布图像;将高斯拟合得到理想光斑分布图像和完整的光斑分布图像进行融合,其中融合系数为各拟合像素位置到光斑中心距离的倒数。
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