[发明专利]基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质有效
| 申请号： | 201910350379.1 | 申请日： | 2019-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110095805B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 王凤;廖青;王哲;张晓凡;秦梅艳;刘凯 | 申请（专利权）人： | 武汉工程大学 |
| 主分类号： | G01T5/00 | 分类号： | G01T5/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;徐苏明 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质，方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟，并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱，能实现对电子轨道半径的直接测量，方法理论简单，计算难度低，计算量小，精度高，突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈，意义深远。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 条纹 电子 轨道 半径 测量方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
1.一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个所述红外电场分别和单个所述阿秒脉冲激光共同作用在所述工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；步骤2：根据所述阿秒条纹谱获取所述工作气体的光电离时间延迟，并根据多个所述经典条纹轨迹获取所述工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；步骤3：根据所述光电离时间延迟和多个所述经典光电离时间延迟获取所述工作气体对应的电子轨道半径。
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