[发明专利]一种气井剩余潜力确定方法有效
申请号: | 201910350998.0 | 申请日: | 2019-04-28 |
公开(公告)号: | CN110130884B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 安红燕;刘鹏程;张吉;范继武;刘莉莉;王龙;王睿 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种气井剩余潜力确定方法,首次提出了气层累产因子和含气层累产因子的概念,考虑了气井主力层系‑气层与非主力层系‑含气层对气井能力贡献的差异,实现了气井剩余潜力的定量评价,为气井二次措施改造选井工作提供了科学依据,提高改造井措施成功率,有助于降低气田气井生产成本,提高气田开发效益。 | ||
搜索关键词: | 一种 气井 剩余 潜力 确定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种气井剩余潜力确定方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、根据气井测井解释结论,统计待评价井所在区块内气井的储层物性参数;S2、计算待评价井所在区块内每口气井的气层累产因子K1,计算公式如下:
式中:n1为气井的气层个数;hi为气井第i个气层的厚度,单位为m;φi为气井第i个气层的孔隙度;si为气井第i个气层的含水饱和度;s0为气层储层束缚水饱和度;S3、计算待评价井所在区块内每口气井含气层累产因子K2,计算公式如下:
其中:n2为气井含气层个数;h′i为气井第i个含气层的厚度,单位为m;φ′i为气井第i个含气层的孔隙度;s′i为气井第i个含气层的含水饱和度;s′0为含气层储层束缚水饱和度;a为气井含气层产气贡献系数,取值0~1;S4、预测待评价井所在区块内每口气井全生命周期最终累计产气量Q累;S5、采用正比例函数对待评价井所在区块内气井的Q累和K1+K2数据关系进行拟合,得到拟合系数X,拟合函数如下:Q累=X(K1+K2) (3)式中:K1为待评价气井气层累产因子;K2为待评价气井含气层累产因子;X为拟合系数;S6、根据待评价气井的物性参数和气井全生命周期最终累计产气量Q累,按照公式(4)评价气井剩余潜力Q剩余,Q剩余=XY(K1+K2)‑Q累 (4)其中:Y为误差系数。
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