[发明专利]一种控制擦除性能的方法和装置有效
| 申请号： | 201910356969.5 | 申请日： | 2019-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN111863090B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 刘言言;许梦;付永庆 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种控制擦除性能的方法和装置。所述方法应用于NOR flash存储器，所述NOR flash存储器包括：擦除验证开关、擦除操作状态机以及擦除存储单元，所述方法包括：所述擦除操作状态机接收擦除操作指令，根据擦除操作指令执行擦除验证和擦除加压操作，再根据擦除循环次数和擦除验证开关的情况，连续执行擦除加压操作预设次数，之后再执行擦除验证操作。本发明在执行擦除加压操作时，擦除操作状态机连续执行擦除加压操作预设次数，跳过对应的擦除验证操作，控制擦除验证操作和擦除加压操作的循环周期，提高NOR flash存储器的擦除性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 控制 擦除 性能 方法 装置 | ||
【主权项】：
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