[发明专利]新型免封装二极管及其加工工艺在审
申请号: | 201910358372.4 | 申请日: | 2019-04-30 |
公开(公告)号: | CN110137266A | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | 吴念博 | 申请(专利权)人: | 苏州固锝电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/06;H01L21/78;H01L21/329 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡;陈昊宇 |
地址: | 215153 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种新型免封装二极管;包括二极管芯片,该二极管芯片包括一硅片衬底,其下表面通过第一杂质掺杂形成有N+区,并通过第二杂质掺杂形成有P+区,且N+区与P+区间隔设置;N+区以及P+区形成于硅片衬底的同侧,并且两者的表面均设有金属电极,构成两金属电极位于硅片衬底的同侧。本发明通过大幅简化封装,通过节省原材料,不仅对环保产生积极影响,且能够降低材料费、人工费,实现最多可降低40%的加工成本,并能够提升单位时间的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 硅片 衬底 封装 二极管芯片 二极管 金属电极 杂质掺杂 同侧 间隔设置 生产效率 下表面 环保 加工 | ||
【主权项】:
1.一种新型免封装二极管;其特征在于:包括二极管芯片,该二极管芯片包括一硅片衬底,其下表面通过第一杂质掺杂形成有N+区,并通过第二杂质掺杂形成有P+区,且N+区与P+区间隔设置;所述N+区以及所述P+区形成于硅片衬底的同侧,并且两者的表面均设有金属电极,构成两所述金属电极位于硅片衬底的同侧。
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