[发明专利]半导体器件的形成方法在审
申请号: | 201910362708.4 | 申请日: | 2019-04-30 |
公开(公告)号: | CN110085705A | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 汤茂亮;柯天麒;王阳阳;刘少东 | 申请(专利权)人: | 德淮半导体有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/103;H01L31/0312 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 薛异荣;吴敏 |
地址: | 223302 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种半导体器件的形成方法,包括:提供半导体衬底;在半导体衬底中形成二极管掺杂层;在二极管掺杂层中的顶部区域形成顶层掺杂层,所述顶层掺杂层的导电类型与二极管掺杂层的导电类型相反;形成顶层掺杂层的方法包括:在所述二极管掺杂层的表面形成扩散层,所述扩散层中具有扩散离子,所述扩散离子的导电类型与二极管掺杂层的导电类型相反;进行热处理,使扩散层中的扩散离子进入二极管掺杂层中的顶部区域;进行所述热处理后,去除所述扩散层。所述方法提高了半导体器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 掺杂层 二极管 导电类型 扩散层 半导体器件 顶层 离子 热处理 顶部区域 扩散 衬底 半导体 表面形成 去除 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底中形成二极管掺杂层;在所述二极管掺杂层中的顶部区域形成顶层掺杂层,所述顶层掺杂层的导电类型与二极管掺杂层的导电类型相反;形成所述顶层掺杂层的方法包括:在所述二极管掺杂层的表面形成扩散层,所述扩散层中具有扩散离子,所述扩散离子的导电类型与二极管掺杂层的导电类型相反;进行热处理,使扩散层中的扩散离子进入二极管掺杂层中的顶部区域;进行所述热处理后,去除所述扩散层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的