[发明专利]测温仪标定装置及使用该装置对测温仪标定的方法在审
| 申请号： | 201910366136.7 | 申请日： | 2019-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111855026A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 吴长征;郭宇桥;吴俊驰;杨波;谢毅 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 程纾孟 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测温仪标定装置，所述测温仪标定装置包括：加热保温腔室：电阻测量仪；和置于所述加热保温腔室中的通过以下步骤制得的二氧化钒基单晶体：在流动惰性气体气氛中，将包含钒源的原料加热至950℃至1150℃之间的温度，并保持24小时至72小时，随后以不高于20℃/分钟的速度降温至室温，以得到二氧化钒基单晶体，其中，所述钒源是除钒之外不包含其他金属元素的含氧化合物，并且其中的钒为+4或+5价，氧与钒的摩尔比为2∶1以上，其中，所述电阻测量仪配置为用于测量所述二氧化钒基单晶体的电阻。该测温仪标定装置提供对测温仪的准确标定。本发明还提供一种使用该装置对对测温仪进行标定的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测温 标定 装置 使用 方法 | ||
【主权项】：
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