[发明专利]一种基于敏度分析的试验结构装配精度调控方法在审
申请号: | 201910366206.9 | 申请日: | 2019-05-05 |
公开(公告)号: | CN110057332A | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 杜凯繁;王博;毕祥军;周才华;张庭南;宋志博;马强 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 李晓亮;潘迅 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明属于大型结构加载试验领域,提出一种基于敏度分析的试验结构装配精度调控方法。包括:获得试验平台关键几何标识信息,获得装配件关键几何标识信息,获得装配件在试验平台坐标系下实际位置,计算装配件的装配精度,判断装配精度是否满足要求。本发明可以通过采用三坐标测量机测量装配结构上和试验平台上基准点坐标,以获取装配件在试验平台坐标系下的关键几何标识信息;并分析装配结构关键几何标识与设计位置的敏度信息,获得向量形式的装配件位置调控方案,从而实现试验系统装配精度监控。本发明可有效降低系统间装配误差和测点位置误差所带来的测试精度损失,提升试验精度。 | ||
搜索关键词: | 装配件 试验平台 装配 标识信息 敏度 精度调控 试验结构 装配结构 三坐标测量机测量 有效降低系统 测点位置 大型结构 加载试验 精度监控 精度损失 设计位置 实际位置 试验系统 位置调控 向量形式 装配误差 分析 基准点 测试 试验 | ||
【主权项】:
1.一种基于敏度分析的装配精度调控方法,其特征在于,所述的装配精度调控方法包括以下步骤:1)获得试验平台关键几何标识信息设计试验平台基准点,建立试验平台坐标系,使用三坐标测量机测量试验平台基准点坐标,计算三坐标测量机坐标系与试验平台坐标系转换关系矩阵,获得试验平台关键几何标识信息;2)获得装配件关键几何标识信息设计试验结构装配件基准点,通过三坐标测量机测量装配件基准点坐标,建立装配件坐标系,获得装配件关键几何标识信息;理论上装配件坐标系与试验平台坐标系为重合状态;3)获得装配件在试验平台坐标系下实际位置通过步骤1)得到的三坐标测量机坐标系与试验平台坐标系转换关系计算装配件基准点在试验平台坐标系下实际坐标数值,获得装配件在试验平台坐标系下实际位置;4)计算装配件的装配精度已知试验结构装配件在试验平台坐标系下的理论位置,将其与步骤3)得到的装配件在试验平台坐标系下实际位置进行比较,计算装配精度,即装配件坐标系原点在试验平台坐标系下坐标和装配件坐标系轴向量与试验平台坐标系轴向量夹角,得到调控向量,从而获得装配精度;5)判断装配精度是否满足要求若装配精度不满足要求,则依据调控向量对装配件进行调控,然后重复第二步;若装配精度满足要求,则装配结束。
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