[发明专利]一种离散介质压力测量的误差修正方法有效

专利信息
申请号: 201910368452.8 申请日: 2019-05-05
公开(公告)号: CN110017943B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 郭力;何怡;王晓强;刘莉;刘欢欢;孙硕程 申请(专利权)人: 洛阳理工学院
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00;G01L27/00
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 俞晓明
地址: 471023 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种离散介质压力测量的误差修正方法,属于离散介质压力测量技术领域。该误差修正方法是先采用压力传感器测得压力值;测量离散介质颗粒的等效投影面积平均粒径;计算获得离散介质颗粒的有效投影面积Sk;然后计算获得离散介质在压力传感器感压膜片上的分布密度n;计算获得压力测量值的相对误差δ;通过相对误差δ,计算获得误差修正之后的压力测量值Xc。本发明误差修正公式中的a、b、c只与传感器有关,a、b、c的确定是在实验的基础上经数据整理并拟合得到,a、b、c被确定后,此传感器在测量各种离散介质时采用同一个误差修正公式,既考虑了误差修正的成本,又兼顾了传感器的个体差异,有效的提高离散介质压力测量精确度。
搜索关键词: 一种 离散 介质 压力 测量 误差 修正 方法
【主权项】:
1.一种离散介质压力测量的误差修正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、采用压力传感器测得离散介质颗粒的压力值X;S2、测量离散介质颗粒的等效投影面积平均粒径d;S3、通过离散介质颗粒的等效投影面积平均粒径d计算获得离散介质颗粒的有效投影面积Sk;S4、通过离散介质颗粒的等效投影面积平均粒径d以及离散介质颗粒的有效投影面积Sk,计算获得离散介质在压力传感器感压膜片上的分布密度n;S5、通过分布密度n和公式δ=b·na+c,计算获得压力测量值的相对误差δ;其中a、b、c为待定常数,与步骤S1中采用的压力传感器相关,a、b、c的确定是通过不同分布密度n与该压力传感器压力测量值的相对误差δ的变化规律拟合得到;S6、通过相对误差δ,计算获得误差修正之后的压力测量值Xc
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