[发明专利]利用磁流体测量孔隙率的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910368596.3 申请日: 2019-05-05
公开(公告)号: CN110095398B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 刘杰;张泽华;李洪亚;谢晓康;唐洪宇;刘昌勇;司马艳;李双庆;李远航;何卓文;张瀚;李伟;申晶;丁力;张罗送;孙涛 申请(专利权)人: 三峡大学
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443002 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种利用磁流体测量孔隙率的装置,包括密闭箱体,密闭箱体底部连接有磁流体汇集槽体,密闭箱体底部设有磁流体汇集通道,密闭箱体通过磁流体汇集通道与磁流体汇集槽体连通,密闭箱体一侧壁上设有抽气通道以及磁流体充入通道,密封箱体上的四个侧壁上分别设有磁体安装槽;密闭箱体为透明箱体,磁流体汇集槽体为透明槽体。本发明提供的一种利用磁流体测量孔隙率的装置及方法,可以解决效率低、准确性差的问题,测量范围灵活,对土体损伤小,测量结果精确。
搜索关键词: 利用 流体 测量 孔隙率 装置 方法
【主权项】:
1.一种利用磁流体测量孔隙率的装置,包括密闭箱体(1),其特征在于:密闭箱体(1)底部连接有磁流体汇集槽体(9),密闭箱体(1)底部设有磁流体汇集通道(5),密闭箱体(1)通过磁流体汇集通道(5)与磁流体汇集槽体(9)连通,密闭箱体(1)一侧壁上设有抽气通道(3)以及磁流体充入通道(4),密封箱体(1)上的四个侧壁上分别设有磁体安装槽(6)。
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