[发明专利]真空声发射无损检测系统在审

专利信息
申请号: 201910368685.8 申请日: 2019-05-05
公开(公告)号: CN110044702A 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 底月兰;王海斗;董丽虹;邢志国;刘明;王乐;刘韬 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军装甲兵学院
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06
代理公司: 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 代理人: 李芳
地址: 100072 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种真空声发射无损检测系统,包括:原位拉伸机;试样基体,试样基体固定于原位拉伸机;扫描电子显微镜,扫描电子显微镜具有真空样品仓,原位拉伸机设于真空样品仓内;计算机系统,计算机系统分别与扫描电子显微镜和原位拉伸机相连;声发射检测探头,声发射检测探头设于真空样品仓内且与试样基体接触;信号放大器,信号放大器设于真空样品仓外且通过线缆与声发射检测探头相连;信号处理器,信号处理器与信号放大器相连。根据本发明实施例的真空声发射无损检测系统在实现声发射无损检测的同时,能够详细地观察涂层材料的开裂过程,利于分析涂层材料在拉伸过程中裂纹的萌生和扩展机制以及材料的损伤机理。
搜索关键词: 真空样品仓 原位拉伸 声发射 扫描电子显微镜 无损检测系统 声发射检测 信号放大器 试样基体 探头 信号处理器 涂层材料 计算机系统 扩展机制 拉伸过程 无损检测 线缆 损伤 观察 分析
【主权项】:
1.一种真空声发射无损检测系统,其特征在于,包括:原位拉伸机;试样基体,所述试样基体设有待测涂层的喷涂面,所述试样基体固定于所述原位拉伸机,所述原位拉伸机工作时拉伸所述试样基体及其上的待测涂层;扫描电子显微镜,所述扫描电子显微镜具有真空样品仓,所述原位拉伸机设于所述真空样品仓内,所述扫描电子显微镜在所述待测涂层被拉伸时连续拍摄图像或进行全过程录像;计算机系统,所述计算机系统分别与所述扫描电子显微镜和所述原位拉伸机相连;声发射检测探头,所述声发射检测探头设于所述真空样品仓内且与所述试样基体接触;信号放大器,所述信号放大器设于所述真空样品仓外且通过线缆与所述声发射检测探头相连;信号处理器,所述信号处理器与所述信号放大器相连。
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