[发明专利]一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法在审
| 申请号： | 201910368959.3 | 申请日： | 2019-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN110031483A | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 骆聪;袁春辉;杨鹏 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 王丽 |
| 地址： | 215163 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其配置简单、检测方便，可避免传统方案繁琐的打光验证试验，待检玻璃样品通过面阵相机成像，所得图像中的待检玻璃样品被结构光光源调制，进而获得条纹调制度分布图和相位分布图，通过条纹调制度分布图和相位分布图可实现增强各种玻璃内外部的瑕疵，从而实现了面阵探测，提高了瑕疵检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 透射式结构 相位分布图 玻璃样品 玻璃瑕疵 调制度 分布图 条纹 检测 光照 结构光光源 面阵相机 验证试验 瑕疵检测 打光 面阵 瑕疵 调制 成像 探测 图像 玻璃 配置 | ||
【主权项】：
1.一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：其包括如下步骤：S1、面阵相机设置于待检玻璃样品上方，调整所述面阵相机与待检玻璃样品之间的距离，以使得所述面阵相机对所述待检玻璃样品清晰成像；S2、结构光光源设置于所述待检玻璃样品的正下方，所述结构光光源上的光强呈条纹分布；S3、所述结构光光源的结构光条纹沿法向平移，平移距离为所述结构光光源周期的1/N，N＝3,4,5……；S4、所述面阵相机对所述待检玻璃样品成像，所得图像中的待检玻璃样品被所述结构光光源调制，使得待检玻璃样品图像上出现明显的条纹结构；S5、重复N次所述步骤S3和S4，获得N幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为Ij(j＝1,2,3，…N)；随后根据获得的N幅图像通过N步相移算法计算出每个像素的条纹调制度和调制相位，获得条纹调制度分布图和相位分布图，通过条纹调制度分布图和相位分布图实现了玻璃瑕疵的检测。
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