[发明专利]芯片处理机构、芯片检测装置及其控制方法

摘要

本发明提供一种芯片处理机构、芯片检测装置及其控制方法，包括支架和吹气组件，支架设置有芯片测试位，吹气组件包括两个气管，第一气管设置有第一出气口，第二气管设置有第二出气口，第一出气口和第二出气口分别位于芯片测试位相对的两侧上，第一出气口的第一出气方向与第二出气口的第二出气方向呈相互错开设置，第一出气口和第二出气口均朝向芯片测试位且呈相对布置。通过位于相对两侧的第一气管和第二气管，且出气方向相互错开以及出气口相对，吹气时位于芯片测试位上的处理液在气体的驱动力作用下，呈旋涡地流动起来，只要保持气管的气体输出就能使处理液能够长时间在芯片测试位流动，从而可以提高清洁效果、反应效果以及反应稳定性。

主权项

1.芯片处理机构，包括支架和吹气组件，所述支架设置有芯片测试位；其特征在于：所述吹气组件包括第一气管和第二气管，所述第一气管设置有第一出气口，所述第二气管设置有第二出气口，所述第一出气口和所述第二出气口分别位于所述芯片测试位相对的两侧上，所述第一出气口的第一出气方向与所述第二出气口的第二出气方向呈相互错开设置，所述第一出气口和所述第二出气口均朝向所述芯片测试位且呈相对布置。