[发明专利]轮廓精度量测系统及量测方法有效
申请号: | 201910371251.3 | 申请日: | 2019-05-06 |
公开(公告)号: | CN111823057B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 曾郁升;吴柏勋;杨宗育;李建毅 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种轮廓精度量测系统及量测方法,是利用量测系统撷取工具机的各轴件的位置坐标数据,再将该位置坐标数据进行演算以获取斜面上的第一真圆轨迹,供作为参考信息,之后该量测系统依据该参考信息的每个轴件的位置坐标数据,调整每个轴件的位置的参数,以产生该斜面上的第二真圆轨迹,因而得知各轴件于调整参数后的位置是否符合标准,以借由自动量测参数及自动测试运作状态,以加速整体量测流程。 | ||
搜索关键词: | 轮廓 精度 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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