[发明专利]对芯片数据异常处理逻辑的验证装置和方法有效

专利信息
申请号: 201910371623.2 申请日: 2019-05-06
公开(公告)号: CN110096402B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 薛炜澎;唐飞;徐子轩 申请(专利权)人: 苏州盛科通信股份有限公司
主分类号: G06F11/25 分类号: G06F11/25
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种对芯片数据异常处理逻辑的验证装置和方法,基于寄存器抽象模型,其中,寄存器抽象模型中包括:造错函数,用于为待测设计中存储器的存储记录产生数据异常,并且将存储器对应存储记录的标识位,设置为数据异常标识;存储器读写逻辑,用于对存储器执行读或写操作;数据异常处理逻辑,当读取标识位为数据异常标识时,寄存器抽象模型调用数据异常处理逻辑进行校验计算,进而使寄存器抽象模型与待测设计的校验计算结果在比较器中自动匹配。通过所述装置和方法,可以解决现有技术中数据异常处理逻辑验证不灵活,复用性差以及测试强度低的问题。
搜索关键词: 芯片 数据 异常 处理 逻辑 验证 装置 方法
【主权项】:
1.一种对芯片数据异常处理逻辑的验证装置,基于寄存器抽象模型,其特征在于,所述寄存器抽象模型中包括:造错函数,用于为待测设计中存储器的存储记录产生数据异常,并且将存储器对应所述存储记录的标识位,置起为数据异常标识;存储器读写逻辑,用于对存储器执行读或写操作;数据异常处理逻辑,当读取所述标识位为数据异常标识时,所述寄存器抽象模型调用所述数据异常处理逻辑进行校验计算,进而使所述寄存器抽象模型与待测设计的校验计算结果在比较器中自动匹配。
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