[发明专利]灰色关联分析与改进DS推理的电子设备故障诊断方法在审
| 申请号： | 201910371985.1 | 申请日： | 2019-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN110061789A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 刘晓东;杨京礼;张宝琴 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | H04B17/17 | 分类号： | H04B17/17 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 高倩 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 灰色关联分析与改进DS推理的电子设备故障诊断方法，涉及故障诊断技术领域。本发明是为了解决现有技术不能采用简单的方式并准确的实现节点测试设备的故障诊断与故障预测能力的问题。提取被测电子设备的故障特征构建每个故障特征的参数子空间；采用灰色关联分析方法计算每个故障特征的参数子空间内每个故障特征参数与故障类型样本中特征参数的灰色关联度；从多个灰色关联度中选取关联度最大的特征参数对应的故障，作为被测电子设备的初步故障类型；对每个灰色关联度进行概率赋值，得到每个故障类型的基本概率赋值，采用改进的DS证据推理融合方法对基本概率赋值进行融合，获得被测电子设备最终的故障类型。它用于诊断电子设备故障。 | ||
| 搜索关键词： | 故障类型 电子设备故障 灰色关联分析 灰色关联度 电子设备 故障特征 推理 基本概率 特征参数 子空间 诊断 故障特征参数 故障诊断技术 改进 故障预测 故障诊断 节点测试 融合 关联度 构建 样本 概率 证据 | ||
【主权项】：
1.灰色关联分析与改进DS推理的电子设备故障诊断方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤一、提取被测电子设备的故障特征，构建每个故障特征的参数子空间；步骤二、采用灰色关联分析的方法，计算每个故障特征的参数子空间内每个故障特征参数与故障类型样本中特征参数的灰色关联度；步骤三、从得到的多个灰色关联度中选取关联度最大的特征参数对应的故障，作为被测电子设备的初步故障类型；步骤四、对步骤二中的每个灰色关联度进行概率赋值，并对步骤三得到的最大关联度赋以最大的概率，得到每个故障特征参数子空间中每个故障类型的基本概率赋值，采用改进的DS证据推理融合方法对得到的基本概率赋值进行融合，获得被测电子设备最终的故障类型。
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