[发明专利]磁栅尺设备、位置测量设备和位置测量方法在审

专利信息
申请号: 201910374389.9 申请日: 2019-05-07
公开(公告)号: CN111912326A 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 丁兆洋;费利克斯.格里姆 申请(专利权)人: 丁兆洋;费利克斯.格里姆
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张银英
地址: 214121 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本公开涉及磁栅尺设备、位置测量设备和位置测量方法。所述磁栅尺设备可包括:栅尺本体,利用铁磁性材料制成,该栅尺本体具有预定编码图案;磁化装置,包括磁体,该磁体形成结构平衡的过渡磁场,所述栅尺本体能够改变所述过渡磁场;磁场检测器,位于所述过渡磁场中,用于检测所述磁化装置在所述栅尺本体作用下形成的磁场。在位置测量设备中,利用磁栅尺设备所检测到的磁场数据,可以进行准确可靠的位置测量。
搜索关键词: 磁栅尺 设备 位置 测量 测量方法
【主权项】:
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