[发明专利]磁栅尺设备、位置测量设备和位置测量方法在审
申请号: | 201910374389.9 | 申请日: | 2019-05-07 |
公开(公告)号: | CN111912326A | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 丁兆洋;费利克斯.格里姆 | 申请(专利权)人: | 丁兆洋;费利克斯.格里姆 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张银英 |
地址: | 214121 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本公开涉及磁栅尺设备、位置测量设备和位置测量方法。所述磁栅尺设备可包括:栅尺本体,利用铁磁性材料制成,该栅尺本体具有预定编码图案;磁化装置,包括磁体,该磁体形成结构平衡的过渡磁场,所述栅尺本体能够改变所述过渡磁场;磁场检测器,位于所述过渡磁场中,用于检测所述磁化装置在所述栅尺本体作用下形成的磁场。在位置测量设备中,利用磁栅尺设备所检测到的磁场数据,可以进行准确可靠的位置测量。 | ||
搜索关键词: | 磁栅尺 设备 位置 测量 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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