[发明专利]一种多级单元磁存储结构及其读写方法有效
申请号: | 201910375368.9 | 申请日: | 2019-05-07 |
公开(公告)号: | CN110164902B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 徐岩松;王昭昊;吴比;赵巍胜 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | H01L27/22 | 分类号: | H01L27/22;H01L43/08;H01L43/12;G11C11/15 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种多级单元磁存储结构及其读写方法,该存储单元由下到上依次为垂直堆叠的强自旋轨道耦合材料、第一磁隧道结、第二磁隧道结、第三磁隧道结及第一电极,强自旋轨道耦合材料两端分别镀有第二电极和第三电极;第一磁隧道结的底面形状内含于强自旋轨道耦合材料上表面,第三磁隧道结的底面形状内含于第二磁隧道结上表面,第一磁隧道结上表面的形状、尺寸和第二磁隧道结的底面完全相同;第一磁隧道结的自由层与强自旋轨道耦合材料相接触;第二、三磁隧道结的自由层、参考层的相对摆放位置与第一磁隧道结相同。通过对单元结构改进并设计相应的读写方法,本发明在提高存储密度的同时,可减少级间干扰,简化写入步骤,优化器件的读取性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 多级 单元 存储 结构 及其 读写 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多级单元磁存储结构,其特征在于:所述结构由下到上依次为垂直堆叠的强自旋轨道耦合材料、第一磁隧道结、第二磁隧道结、第三磁隧道结及第一电极,在强自旋轨道耦合材料两端分别镀有第二电极和第三电极;所述第一磁隧道结的底面形状内含于所述强自选轨道耦合材料的上表面,所述第三磁隧道结的底面形状内含于所述第二磁隧道结的上表面,第一磁隧道结上表面的形状、尺寸和第二磁隧道结的底面完全相同;所述第一磁隧道结的自由层与所述强自旋轨道耦合材料相接触,可受自旋轨道耦合作用的影响;所述第二、三磁隧道结的自由层、参考层的相对摆放位置与所述第一磁隧道结相同。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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