[发明专利]绝缘子老化程度的评估方法在审
| 申请号： | 201910375609.X | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110261343A | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 梅红伟;李岚欣;王黎明 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 曾昭毅;郑海威 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种绝缘子老化程度的评估方法，包括以下步骤：从所述绝缘子上选取多个待测采样点；获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数；以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较，从而确定所述绝缘子的老化程度。本发明提供的所述绝缘子老化程度的评估方法操作简单，测试结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 吸收系数 采样点 老化 评估 太赫兹波 透射模式 频率点 | ||
【主权项】：
1.一种绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，包括以下步骤：从所述绝缘子上选取多个待测采样点；获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数；以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较，从而确定所述绝缘子的老化程度。
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