[发明专利]一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法在审
| 申请号： | 201910376618.0 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110044992A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 范继来;李闯;陈权;刘越强 | 申请（专利权）人： | 丹东百特仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/447 | 分类号： | G01N27/447 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 118009 辽宁省丹*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法，包括以下步骤：1)将被测样品在介质中混合均匀后，送入带有正负电极的样品池中；2)给样品池中的电极施加电压，产生规定强度的电场；3)带电的颗粒在电场的作用下定向移动；4)用光源、镜头、相机组成的成像系统拍摄样品池，在相机拍摄的图像上体现为图像灰度的变化；5)将相机拍摄的图像按固定时间间隔传给计算机进行处理分析。本发明方法不需要拍摄颗粒的真实图像，是根据图像灰度变化来计算颗粒的Zeta电位，可以实现微米级以下到纳米级颗粒的Zeta电位分析，解决了以往的显微图像法无法分析微米级以下到纳米级颗粒的不足。 | ||
| 搜索关键词： | 图像灰度 样品池 纳米级颗粒 电场 相机拍摄 分析 微米级 粒子 图像 电极施加电压 固定时间间隔 被测样品 成像系统 定向移动 显微图像 真实图像 正负电极 拍摄 上体 带电 光源 送入 相机 镜头 计算机 | ||
【主权项】：
1.一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法，其特征在于：包括以下步骤：1)将被测样品在介质中混合均匀后，送入带有正负电极的样品池中；2)给样品池中的电极施加电压，产生规定强度的电场；3)带电的颗粒在电场的作用下定向移动；4)用光源、镜头、相机组成的成像系统拍摄样品池，在相机拍摄的图像上体现为图像灰度的变化；5)将相机拍摄的图像按固定时间间隔传给计算机进行处理分析。
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