[发明专利]一种基于测量轨迹的阈值直线确定方法、装置有效
| 申请号： | 201910378243.1 | 申请日： | 2019-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN110210067B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 孔伟成 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06N10/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230008 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明属于量子测控领域，具体公开了一种基于测量轨迹的阈值直线确定方法、装置，包括：获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号的测量数据，对所述测量数据进行复数变换处理获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的原始数据；根据所述原始数据获得量子比特读取信号对应的测量轨迹；根据所述测量轨迹获得第一类坐标点数据、第一统计中心坐标点、第二类坐标点数据、第二统计中心坐标点；根据所述第一类坐标点数据和所述第一统计中心坐标点、第二类坐标点数据和所述第二统计中心坐标点确定阈值直线。本发明能够提高数据的预处理精度以及获得的阈值直线精度，有助于提高量子计算系统的可靠性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 测量 轨迹 阈值 直线 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，包括以下步骤：获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号的测量数据，其中：所述确定量子态包括可相互区分的第一量子态和第二量子态；对所述测量数据进行复数变换处理获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的原始数据；根据所述原始数据获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的测量轨迹；根据所述测量轨迹获得量子比特处于所述第一量子态时的每次测量得到的量子比特读取信号对应的第一类坐标点数据以及各所述第一类坐标点的第一统计中心坐标点、量子比特处于所述第二量子态时每次测量得到的量子比特读取信号对应的第二类坐标点数据以及各所述第二类坐标点的第二统计中心坐标点；根据所述第一类坐标点数据和所述第一统计中心坐标点、第二类坐标点数据和所述第二统计中心坐标点确定阈值直线。
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