[发明专利]发射率检测装置在审
| 申请号： | 201910378744.X | 申请日： | 2019-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN110108675A | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 刘慧 | 申请（专利权）人： | 信阳师范学院 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01J5/10;G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人： | 尚志峰;汪海屏 |
| 地址： | 464000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种发射率检测装置，包括：物品盛装台，用于盛装待检测物体；传感器，用于接收发自待检测物体的第一辐射光线以得到第一辐射信号；反射镜，反射镜与传感器对称设置在以待检测物体表面所确定的法线两侧，用于将发自待检测物体的第二辐射光线反射至待检测物体，以使待检测物体反射第三辐射光线；传感器还用于：接收第一辐射光线和第三辐射光线以得到第二辐射信号；控制器，控制器与传感器相连接，用于根据第一辐射信号和第二辐射信号确定待检测物体的发射率。由于反射镜与传感器对称设置在以待检测物体表面所确定的法线两侧，通过检测第一辐射信号和第二辐射信号即可确定待检测物体的发射率。 | ||
| 搜索关键词： | 待检测物体 辐射信号 传感器 发射率 辐射 反射镜 法线 对称设置 检测装置 控制器 光线反射 物品盛装 检测 反射 盛装 | ||
【主权项】：
1.一种发射率检测装置，其特征在于，包括：物品盛装台，用于盛装待检测物体；传感器，用于接收发自所述待检测物体的第一辐射光线以得到第一辐射信号；反射镜，所述反射镜与所述传感器对称设置在以所述待检测物体表面所确定的法线两侧，用于将发自所述待检测物体的第二辐射光线反射至所述待检测物体，以使所述待检测物体反射第三辐射光线；所述传感器还用于：接收所述第一辐射光线和所述第三辐射光线以得到第二辐射信号；控制器，所述控制器与所述传感器相连接，用于根据所述第一辐射信号和所述第二辐射信号确定所述待检测物体的发射率。
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