[发明专利]OPC模型建立过程中针对大尺寸非关键层图形的光学参数优化方法有效

专利信息
申请号: 201910382467.X 申请日: 2019-05-09
公开(公告)号: CN110209011B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 魏娟 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36;G03F7/20
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 栾美洁
地址: 201315 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种OPC模型建立过程中针对大尺寸非关键层图形的光学参数优化方法,包括:收取最佳曝光条件下的CDSEM数据;初选离胶起始位置的初始值和光束焦点的初始值;构建离胶起始位置‑光束焦点的所有初始值组合;对每个离胶起始位置‑光束焦点的初始值组合进行复选,在每个离胶起始位置‑光束焦点的初始值组合中确定一个离胶起始位置‑光束焦点的最佳值组合;对所有的离胶起始位置‑光束焦点的最佳值组合进行分析比对,从中确定最终的离胶起始位置‑光束焦点组合。本发明在不需要收集工艺窗口条件下的CDSEM数据的前提下,可以对离胶起始位置和光束焦点进行快速高效的筛选和组合,而且可以同时获得多个离胶起始位置‑光束焦点组合,提供更多选择。
搜索关键词: opc 模型 建立 过程 针对 尺寸 关键 图形 光学 参数 优化 方法
【主权项】:
1.一种OPC模型建立过程中针对大尺寸非关键层图形的光学参数优化方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,收取最佳曝光条件下的CDSEM数据;步骤S2,初选离胶起始位置的初始值和光束焦点的初始值;步骤S3,构建离胶起始位置‑光束焦点的所有初始值组合;步骤S4,对每个离胶起始位置‑光束焦点的初始值组合进行复选,在每个离胶起始位置‑光束焦点的初始值组合中确定一个离胶起始位置‑光束焦点的最佳值组合;步骤S5,对所有的离胶起始位置‑光束焦点的最佳值组合进行分析比对,从中确定最终的离胶起始位置‑光束焦点组合。
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