[发明专利]光场强度检测系统和方法在审
| 申请号： | 201910384388.2 | 申请日： | 2019-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN110081969A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 杨爱萍;杜路平;孟繁斐;袁小聪 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/42 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 袁文英 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光场强度检测系统和方法，光场强度检测系统包括待测光场产生装置、分离装置以及检测装置。首先，通过介质颗粒对待测光场进行散射，从而实现电场分量和磁场分量的同步表征；然后，通过波导薄膜对散射光中的电场信号和磁场信号进行不同激发角度的辐射，从而对散射光中的电场信号和磁场信号进行分离；最后，采集电场信号和磁场信号，并且生成相应的电场强度分布图和磁场强度分布图。通过实现待测光场中的电场信号和磁场信号的同步表征，拓展了光场信息表征的维度，促进了人们对光场本质的认识，也提供了新的光场信息获取手段，因此，在纳米尺度下的光与物质相互作用以及超分辨信息处理等研究领域有十分重要的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场信号 电场信号 强度检测系统 测光 光场 光场信息 散射光 磁场强度分布图 电场强度分布图 波导薄膜 磁场分量 电场分量 分离装置 检测装置 介质颗粒 纳米尺度 信息处理 场产生 超分辨 散射 维度 采集 辐射 激发 拓展 应用 研究 | ||
【主权项】：
1.一种光场强度检测系统，其特征在于，包括：待测光场产生装置，所述待测光场产生装置用于产生待测光场；分离装置，所述分离装置包括介质颗粒和波导薄膜，所述待测光场依次经过介质颗粒和波导薄膜，介质颗粒产生散射光实现待测光场的响应，波导薄膜对散射光中的电场信号和磁场信号进行分离，其中，所述介质颗粒同时具有电偶共振和磁偶共振，所述波导薄膜同时支持横电波模式和横磁波模式；以及检测装置，所述检测装置用于采集所述电场信号和所述磁场信号，并且生成相应的电场强度分布图和磁场强度分布图。
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