[发明专利]一种日照分析方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910384831.6 | 申请日： | 2019-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN110110445B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 丁伟;刘从丰 | 申请（专利权）人： | 洛阳众智软件科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06T19/20 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 韩国强 |
| 地址： | 471000 河南省洛阳市洛阳高新*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种日照分析方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取待分析建筑的建筑物特征参数及功能参数；结合建筑物特征参数及功能参数构建三维日照分析模型；设置日照分析时的日照分析参数；结合日照分析参数利用三维日照分析模型进行设定功能的日照分析，得到日照分析结果；将日照分析结果以三维阴影效果进行显示。采用上述方法或装置或设备能够构建三维日照分析模型，实现三维日照分析，为用户展示更立体直观的日照分析结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 日照 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种日照分析方法，其特征在于，包括：获取待分析建筑的建筑物特征参数及功能参数；所述建筑物特征参数包括：建筑高度、建筑长度、建筑构件窗户、建筑空间坐标及向量、建筑颜色和建筑材料；结合所述建筑物特征参数及所述功能参数构建三维日照分析模型；设置日照分析时的日照分析参数；结合所述日照分析参数利用所述三维日照分析模型进行设定功能的日照分析，得到日照分析结果；将所述日照分析结果以三维阴影效果进行显示。
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